7-1762698108440634871-.xls 产品开发能力 A类 B类 目标 基线 下限 上限 目标 基线 下限 上限 24.5 23.3 20.2 26.5 26.3 25 15.2 34.8 5.3 4.1 5.1 4.6 2.9 2.4 7.2 6.8 43.1 2.7 41 3 17.3 0 64.6 6.2 硬件开发生产率(NOC/人天) 硬件问题解决效率（个/人月） 3.7 3.5 2.3 4.7 8.1 7.8 3.3 12.3 系统测试发现硬件缺陷密度（个/KNOC） 13.3 37.0 14.7 35.3 3.3 26.1 26.2 44.4 2.0 0.3 1.9 0.3 1.5 0.2 2.3 0.4 软件开发生产率(LOC/人天) 软件问题解决效率（个/人月） 系统测试发现软件缺陷密度（个/KLOC） 逻辑开发生产率(LOC/人天) 逻辑问题解决效率（个/人月） 系统测试发现逻辑缺陷密度（个/KLOC） 系统测试生产率(LOC/人天) 系统测试缺陷发现效率(个/人月) 硬件测试生产率(NOC/人天) 逻辑测试生产率(LOC/人天) 注： 1、本次能力基线发布日期为XXX年X月； 2、本次能力基线发布不提供系统测试生产率、系统测试发现缺陷效率、硬件测试生产率、逻辑测试生产率基线数据。 7-1762698108440634871-.xls 产品开发能力 C类 目标 基线 下限 上限 58.8 56.0 39.9 73.1 30.2 2.6 28.8 2.9 9.7 1.0 47.9 4.8 7-1762698108440634871-.xls A类 B类 C类 产品开发周期分布 CHARTE TR1-TR2 TR2-TR3 TR3-TR4 R-TR1 9% 8% 6% 30% 5% 12% 18% 33% 0% 11% 18% 40% TR4TR4A 25% 20% 31% TR4ATR5 10% 8% 0% TR5-TR6 合计 12% 4% 0% 100% 100% 100% 平均周期（ 月） 18 6 4 7-1762698108440634871-.xls 产品开发工作量分布 软件开发 A类 B类 C类 CHARTE TR1-TR2 TR2-TR3 TR3-TR4 R-TR1 4% 8% 6% 40% TR4TR4A 30% TR4ATR5 6% 系统测试 1% 4% 5% 25% 40% 15% 硬件开发 4% 5% 9% 53% 26% 2% 硬件测试 1% 4% 4% 30% 40% 15% 逻辑开发 4% 5% 9% 53% 26% 2% 逻辑测试 0% 0% 15% 80% 5% 0% 软件开发 3% 10% 22% 45% 13% 5% 系统测试 0% 5% 10% 30% 50% 5% 软件开发 10% 20% 59% 11% 0% 系统测试 5% 11% 38% 46% 0% 7-1762698108440634871-.xls TR5-TR6 6% 10% 1% 6% 1% 0% 2% 0% 0% 0% 7-1762698108440634871-.xls 7-1762698108440634871-.xls 规模折算关系 软件 对于具体某个产品而言，假定相同的工作量可以生产出相同的代码规模，以主机的C语言为标准，其它语言1 行折算为标准C语言行数。 语言种类 折算关系（每1行相当于C语言的行数） C/C++ VC JAVA 界面C++ 汇编、底层驱动 微码 PB DELPHI SIB SQL 1 0.91 0.7 0.8 1.44 5.2 0.8 0.8 15 0.62 单板硬件等效新增规模S = 其中： 硬件 4 Ct× ∑ [ Si× √ Ni ×（ 1− Di ）×Ci ] i Ci――单元电路类别i的难度系数； Di――单元电路类别i的重用率； Ni――单元电路类别i中的相同单元个数 Si——单元电路类别i中的一个非重复电路的参考规模（网络连接数）； Ct——整板难度因素修正项，主要针对应用环境恶劣程度和EMC要求； 各类单元电路对应的系数请参照《硬件单元技术量化配置表》。 7-1762698108440634871-.xls Ni ×（ 1− Di ）×Ci ]